5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高，微小抖動即可導致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時間測量單元），分辨率高達10ps（0.01納秒），相當于光在3毫米內傳播的時間，能精細捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉換器的時序一致性至關重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復雜調制模式下的響應性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協議測試需求。在通信技術快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力，為國產通信芯片的性能與穩定性提供精細驗證，助力中國在6G賽道搶占先機。國磊GT600測試系統只需通過“配置升級”和“方案打包”，就能快速適配Chiplet的復雜測試需求。杭州國磊GEN測試系統廠家

現代AI芯片集成度極高，動輒擁有上千引腳，傳統測試設備因通道數量不足，往往需分時復用或多輪測試，不僅效率低下，還可能遺漏關鍵時序問題。杭州國磊GT600比較高支持2048個數字通道，可一次性完成全引腳并行測試，確保高速數據總線、多核NPU互連、HBM內存接口等復雜結構的功能完整性與時序一致性。這一能力對寒武紀、壁仞、燧原等國產AI芯片企業尤為重要。在大模型訓練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗證真實工作負載下系統穩定性的關鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產的周期，助力國產AI算力快速落地數據中心與邊緣場景。國產SIR測試系統哪家好國磊GT600SoC測試機通過加載Pattern，驗證SoC邏輯（如CPU、NPU、DSP）的功能正確性與邏輯測試及向量測試。

在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊（Guolei）的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。

    杭州國磊（Guolei）SoC測試系統（以GT600為**）雖主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字與混合信號測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數字接口驗證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機電系統）。以下是其具體支持的典型MEMS應用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應用于智能手機、無人機、AR/VR設備及智能駕駛系統，通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號調理、Σ-ΔADC轉換、溫度補償和SPI/I2C通信。杭州國磊（Guolei）支持點：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級模擬輸出；通過TMU（時間測量單元）驗證陀螺儀響應延遲與帶寬；使用400MHz數字通道測試高速SPI接口時序（眼圖、抖動）；PPMU每引腳**供電，精確測量各工作模式功耗。 國磊GT600為采用先進工藝、集成多電源域、支持復雜低功耗策略的SoC提供了從研發驗證到量產測試的全程支持。

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），相當于檢測每秒流過數億個電子的微小電流。在手機芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導致的“待機耗電”問題，確保續航達標。在FIMV（強制電流測電壓）模式下，可驗證電源調整率，防止芯片在高負載下電壓跌落導致死機。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。國磊GT600SoC測試機可以通過GPIB/TTL接口聯動探針臺與分選機，實現全自動測試。高性能高阻測試系統批發

低功耗SoC應用于物聯網、可穿戴設備等高量產場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。杭州國磊GEN測試系統廠家

杭州國磊GT600提供512個數字通道，并可擴展至2048通道，配合16個通用插槽，構建了高度靈活的硬件架構。在測試一顆引腳數超500的手機SoC時，512通道可完全覆蓋其I/O需求，無需復用或分時測試，確保信號同步性。16個插槽支持自由組合數字板卡、模擬板卡（AWG/TMU）、電源板卡（DPS/SMU），實現“數字+模擬+混合信號”一體化測試。例如，測試智能座艙芯片時，部分插槽配置為高速數字通道測試CPU邏輯，另一部分接入AWG生成音頻信號測試DAC，再通過TMU測量顯示接口時序。這種模塊化設計讓GT600能像“變形金剛”一樣適配不同芯片需求，從低引腳MCU到高集成SoC，一機通測，大幅降低企業設備采購與維護成本。杭州國磊GEN測試系統廠家