福州絕緣電阻測試系統
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發布時間:2025-12-15
可選AWG/TMU/Digitizer:混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG(任意波形發生器)、TMU(時間測量單元)和Digitizer(數字化儀),使其從“數字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形,用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能,THD低至-122dB,信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率,可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲,保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號,用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時,杭州國磊GT600可同時激勵數字邏輯、注入模擬信號、采集響應波形,實現全功能閉環驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應對日益復雜的混合信號SoC,無需外接多臺設備,節省空間與成本。低功耗SoC應用于物聯網、可穿戴設備等高量產場景。國磊GT600支持512Sites并行測試,降低芯片的測試成本。福州絕緣電阻測試系統
杭州國磊(Guolei)SoC測試系統(以GT600為**)雖主要面向高性能系統級芯片(SoC)的數字與混合信號測試,但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數字接口驗證及并行測試能力,能夠有效支持多種MEMS(微機電系統)。以下是其具體支持的典型MEMS應用場景:1.慣性測量單元(IMU)IMU廣泛應用于智能手機、無人機、AR/VR設備及智能駕駛系統,通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀(6DoF)甚至磁力計(9DoF)。其配套ASIC需完成微弱電容信號調理、Σ-ΔADC轉換、溫度補償和SPI/I2C通信。杭州國磊(Guolei)支持點:利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級模擬輸出;通過TMU(時間測量單元)驗證陀螺儀響應延遲與帶寬;使用400MHz數字通道測試高速SPI接口時序(眼圖、抖動);PPMU每引腳**供電,精確測量各工作模式功耗。
離子遷移測試系統研發中心國磊GT600SoC測試機可以進行電源門控測試即驗證PowerGating開關的漏電控制效果。
杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度,相當于可存儲1.28億個測試步驟,這是保障復雜芯片測試完整性的關鍵。現代SoC的測試程序極為龐大,如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執行多任務調度、通信芯片處理完整5G協議棧,這些測試序列動輒數百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足,測試機需頻繁從硬盤加載數據,導致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內存,實現“全速連續運行”,避免性能瓶頸。在工程調試階段,長向量也便于復現偶發性失效。對于需要長時間穩定性測試的車規芯片,128M空間可容納老化測試的完整循環序列。這一參數確保杭州國磊GT600能應對未來更復雜的芯片驗證需求。
靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構 當前智能駕駛SoC廠商采用異構計算架構,不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個通用插槽,支持數字、模擬及混合信號板卡任意組合,并兼容多種VI浮動電源板卡(如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出)。這種高度模塊化的設計使測試平臺能快速適配英偉達Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構芯片的測試需求,無需為每款芯片重新開發整套測試硬件,***提升測試系統的復用率與投資回報率。國磊GT600可用于測量電源上電時序(PowerSequencing),確保多域電源按正確順序激發,避免閂鎖效應。
AI芯片市場競爭激烈,測試成本直接影響產品定價與市場滲透率。GT600支持高達512 Sites的并行測試能力,意味著單次測試可同時驗證數百顆芯片,將單位測試時間壓縮至傳統設備的1/10以下。結合其高穩定性與自動化軟件平臺,整體測試成本可降低70%以上。這一優勢對年出貨量達百萬級的邊緣AI芯片、智能攝像頭主控、機器人控制器等產品尤為關鍵。杭州國磊通過GT600構建的“超級測試流水線”,不僅提升了國產芯片的量產效率,更增強了中國AI硬件在全球市場的價格競爭力,真正實現“測得起、賣得快、走得遠”。國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺,其測試能力由板卡配置與軟件程序決定,而非綁定特定工藝。廣州PCB測試系統廠家直銷
先進節點(如28nm及以下)漏電更敏感,國磊GT600的PPMU可測nA級電流,滿足FinFET等工藝的低功耗驗證需求。福州絕緣電阻測試系統
杭州國磊(Guolei)的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片(SoC)量產與工程驗證的自動測試設備(ATE),其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計,但在當前科技融合加速發展的背景下,國磊SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求,目前實用化的量子處理器(如超導量子比特、硅基自旋量子比特)本身無法**工作,必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器(AWG)、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器(DAC/ADC)以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC,需在極端條件下(如低溫、低噪聲)進行功能與參數驗證。國磊(Guolei)GT600配備的高精度AWG板卡(THD達-122dB)、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元(10ps分辨率),恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性,從而間接支撐量子系統的穩定運行。
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