杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動測試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號測試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，國磊SoC測試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 當(dāng)電源門控開關(guān)未完全關(guān)斷時被關(guān)閉模塊仍會產(chǎn)生異常漏電。國磊GT600通過PPMU測量被門控電源域的靜態(tài)電流。SIR測試系統(tǒng)供應(yīng)

在全球半導(dǎo)體測試設(shè)備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機(jī)標(biāo)志著中國在**數(shù)字測試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)關(guān)鍵突破。該設(shè)備支持高達(dá)400 MHz的測試速率和**多2048個數(shù)字通道，足以覆蓋當(dāng)前主流AI芯片、高性能計(jì)算SoC及車規(guī)級芯片的驗(yàn)證需求。其模塊化架構(gòu)不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實(shí)現(xiàn)了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規(guī)避了“卡脖子”風(fēng)險(xiǎn)。在中美科技競爭加劇、國產(chǎn)芯片加速落地的大環(huán)境下，GT600不僅是一臺測試設(shè)備，更是保障中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈安全的戰(zhàn)略支點(diǎn)，為國內(nèi)設(shè)計(jì)公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗(yàn)證平臺。SIR測試系統(tǒng)供應(yīng)國磊GT600SoC測試機(jī)向量響應(yīng)存儲深度達(dá)128M，可完整捕獲HBM高速數(shù)據(jù)傳輸過程中的誤碼行為。

智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動駕駛技術(shù)的快速演進(jìn)，車載計(jì)算平臺對SoC（系統(tǒng)級芯片）的性能、可靠性與實(shí)時性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復(fù)雜任務(wù)。然而，如此復(fù)雜的芯片架構(gòu)對測試環(huán)節(jié)構(gòu)成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借高達(dá)400 MHz的測試速率、512至2048個數(shù)字通道以及每通道高達(dá)128M的向量存儲深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗(yàn)證階段所需的高并發(fā)、高精度測試場景，為芯片從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)提供堅(jiān)實(shí)保障。

Chiplet時代的“互聯(lián)驗(yàn)證者” Chiplet（芯粒）技術(shù)通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進(jìn)制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯(lián)（如UCIe）對信號完整性、功耗、時序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號延遲與抖動。其高精度SMU可驗(yàn)證微凸塊（Micro-bump）的供電穩(wěn)定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優(yōu)化。杭州國磊GT600的模塊化設(shè)計(jì)也便于擴(kuò)展，可針對不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術(shù)快速發(fā)展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯(lián)驗(yàn)證能力，為國產(chǎn)先進(jìn)封裝芯片的可靠性與性能保駕護(hù)航。國磊GT600測試機(jī)可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工藝節(jié)點(diǎn)的電源門控測試。

國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測試平臺，在當(dāng)前全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈高度競爭與地緣***風(fēng)險(xiǎn)加劇的背景下，對保障中國半導(dǎo)體及**制造領(lǐng)域的供應(yīng)鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設(shè)備進(jìn)口依賴 自動測試設(shè)備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達(dá)（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測試領(lǐng)域，國產(chǎn)設(shè)備幾乎空白。國磊GT600實(shí)現(xiàn)了400MHz測試速率、2048通道擴(kuò)展、高精度AWG/TMU等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)的突破，具備替代進(jìn)口設(shè)備的能力。這***降低了國內(nèi)晶圓廠、封測廠和芯片設(shè)計(jì)公司在**測試環(huán)節(jié)對國外設(shè)備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術(shù)封鎖導(dǎo)致產(chǎn)線停擺。國磊GT600測試機(jī)模塊化16插槽架構(gòu)可同時集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實(shí)現(xiàn)HBM系統(tǒng)級混合信號測試。廣州SIR測試系統(tǒng)哪家好

國磊GT600可以通過喚醒延遲測試即測量從低功耗模式到激發(fā)狀態(tài)的響應(yīng)時間，適用于可穿戴、IoT芯片。SIR測試系統(tǒng)供應(yīng)

推動測試設(shè)備產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動了國內(nèi)精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進(jìn)本土供應(yīng)鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器（TDC），這類**部件的國產(chǎn)化也在同步推進(jìn)。這種“以用促研、以研帶產(chǎn)”的良性循環(huán)，有助于構(gòu)建完整的國產(chǎn)半導(dǎo)體測試裝備產(chǎn)業(yè)鏈，從根本上提升供應(yīng)鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不僅是技術(shù)工具，更是國家半導(dǎo)體供應(yīng)鏈安全體系中的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它通過實(shí)現(xiàn)**測試設(shè)備的國產(chǎn)替代、支撐國產(chǎn)芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進(jìn)上下游協(xié)同，構(gòu)筑起一道抵御外部風(fēng)險(xiǎn)的“技術(shù)護(hù)城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產(chǎn)**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點(diǎn)。SIR測試系統(tǒng)供應(yīng)