高精度模擬測試滿足車規級信號完整性要求 智能駕駛系統高度依賴毫米波雷達、攝像頭、激光雷達等傳感器輸入，其前端模擬信號鏈對噪聲、失真和時序精度極為敏感。杭州國磊GT600配備的GT-AWGLP02 AWG板卡具備-122dB THD與110dB SNR指標，可精細生成高質量模擬激勵信號；而GT-TMUHA04時間測量單元則提供10ps分辨率與時序誤差*±10ps的測量能力。這些高精度模擬與混合信號測試功能，使得GT600能夠***驗證AD/DA轉換器、高速SerDes接口及電源管理模塊在極端工況下的性能表現，確保智能駕駛SoC在真實道路環境中穩定可靠運行。國磊GT600為采用先進工藝、集成多電源域、支持復雜低功耗策略的SoC提供了從研發驗證到量產測試的全程支持。國磊絕緣電阻測試系統供應商

推動測試設備產業鏈協同發展，國磊（Guolei）GT600的研發帶動了國內精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數字轉換器（TDC），這類**部件的國產化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產”的良性循環，有助于構建完整的國產半導體測試裝備產業鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續性。國磊（Guolei）SoC測試系統不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現**測試設備的國產替代、支撐國產芯片自主創新、保障敏感數據安全、促進上下游協同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產業鏈不可或缺的戰略支點。衡陽GEN測試系統定制國磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多種模式，滿足運放、比較器等模擬器件特性測試需求。

適配多元化國產芯片架構 中國芯片產業呈現百花齊放態勢：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構層出不窮。這些芯片往往具有非標I/O、特殊電源域或混合信號需求。國磊（Guolei）GT600的16個通用插槽、多種VI浮動電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構芯片的測試需求，避免因測試平臺僵化而制約創新芯片的發展，從而維護技術路線的多樣性與供應鏈的抗風險能力。保障關鍵領域芯片供應安全 在**、航空航天、智能電網、軌道交通、新能源汽車等關乎國計民生的關鍵領域，芯片供應鏈安全直接關系**。國磊（Guolei）GT600已應用于**AD/DA、顯示驅動、MCU等芯片測試，未來可進一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領域。通過部署國產測試設備，這些敏感芯片的測試數據、良率信息、失效模式等**知識產權得以保留在境內，杜絕信息泄露風險。

國磊（Guolei）的SoC測試機（如GT600）雖然主要面向高性能系統級芯片（SoC）的數字、模擬及混合信號測試，但其技術能力與MEMS（微機電系統）領域存在多維度、深層次的聯系。盡管MEMS器件本身結構特殊（包含機械微結構、傳感器/執行器等），但在實際應用中，絕大多數MEMS芯片都需與**ASIC或SoC集成封裝（如慣性測量單元IMU、麥克風、壓力傳感器等），而這些配套電路的測試正是國磊SoC測試機的**應用場景。MEMS-ASIC協同封裝的測試需求，現代MEMS產品極少以“裸傳感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的異質集成方案。例如，加速度計/陀螺儀中的MEMS結構負責感知物理量，而配套的ASIC則完成信號調理、模數轉換、溫度補償和數字接口輸出。這類ASIC往往具備高精度模擬前端（如低噪聲放大器、Σ-Δ ADC）、可編程增益控制和I2C/SPI數字接口，屬于典型的混合信號SoC。 國磊GT600配備24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引腳參數測量單元及TMU時間測量功能，可***驗證此類MEMS配套ASIC的線性度、噪聲性能、時序響應和電源抑制比，確保傳感器整體精度與可靠性。國磊GT600的SMU覆蓋從高壓IO（3.3V）到低電壓he心（0.6V~1.2V）的多種電源域，適配不同節點供電要求。

杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度，相當于可存儲1.28億個測試步驟，這是保障復雜芯片測試完整性的關鍵。現代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執行多任務調度、通信芯片處理完整5G協議棧，這些測試序列動輒數百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機需頻繁從硬盤加載數據，導致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內存，實現“全速連續運行”，避免性能瓶頸。在工程調試階段，長向量也便于復現偶發性失效。對于需要長時間穩定性測試的車規芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環序列。這一參數確保杭州國磊GT600能應對未來更復雜的芯片驗證需求。國磊GT600SoC測試機支持GT-AWGLP02任意波形發生器板卡，THD達-122dB，適用于HBMSerDes接收端靈敏度測試。廣東GEN測試系統哪家好

國磊GT600可使用AWG生成模擬輸入信號，Digitizer捕獲輸出，計算INL、DNL、SNR、THD等指標。國磊絕緣電阻測試系統供應商

工業物聯網的“量產引擎” 工業物聯網（IIoT）設備對芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國磊GT600的512站點并行測試能力，可一次測試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測試吞吐量，***降低單顆測試成本。據行業測算，同測數每翻一倍，測試成本可下降30%以上。杭州國磊GT600支持長時間老化測試，篩選出能在高溫、高濕、強電磁干擾環境下穩定運行的“工業級”芯片。其GTFY系統支持STDF數據導出，可無縫對接工廠MES系統，實現良率分析與智能制造。杭州國磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優勢，為國產IIoT芯片的大規模量產提供強大引擎，助力中國智造走向全球。國磊絕緣電阻測試系統供應商