杭州國磊GT600提供高達(dá)128M的向量存儲深度，相當(dāng)于可存儲1.28億個(gè)測試步驟，這是保障復(fù)雜芯片測試完整性的關(guān)鍵?，F(xiàn)代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運(yùn)行ResNet-50模型推理、手機(jī)SoC執(zhí)行多任務(wù)調(diào)度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測試序列動(dòng)輒數(shù)百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機(jī)需頻繁從硬盤加載數(shù)據(jù)，導(dǎo)致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個(gè)測試程序一次性載入內(nèi)存，實(shí)現(xiàn)“全速連續(xù)運(yùn)行”，避免性能瓶頸。在工程調(diào)試階段，長向量也便于復(fù)現(xiàn)偶發(fā)性失效。對于需要長時(shí)間穩(wěn)定性測試的車規(guī)芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國磊GT600能應(yīng)對未來更復(fù)雜的芯片驗(yàn)證需求。國磊GT600可使用AWG生成模擬輸入信號，Digitizer捕獲輸出，計(jì)算INL、DNL、SNR、THD等指標(biāo)。常州導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)

可穿戴設(shè)備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設(shè)備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機(jī)漏電超標(biāo)，可能導(dǎo)致設(shè)備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態(tài)電流（Iddq），相當(dāng)于每秒流過數(shù)億個(gè)電子的微小電流，能識別芯片內(nèi)部的“隱形漏電點(diǎn)”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗(yàn)證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機(jī)制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質(zhì)”的芯片進(jìn)入量產(chǎn)。同時(shí)，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗(yàn)證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產(chǎn)芯片的用戶體驗(yàn)提供底層保障。東莞SIR測試系統(tǒng)批發(fā)國磊GT600測試機(jī)可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工藝節(jié)點(diǎn)的電源門控測試。

    杭州國磊GT600SoC測試機(jī)之所以特別適用于高?？蒲袌鼍埃?*在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價(jià)比，完美契合高校在芯片教學(xué)、科研探索與原型驗(yàn)證中的獨(dú)特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎(chǔ)。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調(diào)試和優(yōu)化測試程序，靈活實(shí)現(xiàn)各類新型芯片架構(gòu)（如RISC-V、存算一體、類腦計(jì)算）的功能驗(yàn)證。這種開放性極大激發(fā)了學(xué)生的工程實(shí)踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構(gòu)支持多樣化實(shí)驗(yàn)需求。GT600提供16個(gè)通用插槽，可自由混插數(shù)字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構(gòu)建從純數(shù)字邏輯到混合信號的完整測試平臺。無論是驗(yàn)證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進(jìn)工藝下的漏電特性，GT600都能“一機(jī)多用”，避免高校重復(fù)采購多臺**設(shè)備，***提升設(shè)備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時(shí)間分辨率達(dá)10ps，適用于FinFET、GAA等先進(jìn)工藝下低功耗器件的特性表征。

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構(gòu) 當(dāng)前智能駕駛SoC廠商采用異構(gòu)計(jì)算架構(gòu)，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協(xié)議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個(gè)通用插槽，支持?jǐn)?shù)字、模擬及混合信號板卡任意組合，并兼容多種VI浮動(dòng)電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設(shè)計(jì)使測試平臺能快速適配英偉達(dá)Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構(gòu)芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發(fā)整套測試硬件，***提升測試系統(tǒng)的復(fù)用率與投資回報(bào)率。國磊GT600SoC測試機(jī)向量響應(yīng)存儲深度達(dá)128M，可完整捕獲HBM高速數(shù)據(jù)傳輸過程中的誤碼行為。

智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動(dòng)駕駛技術(shù)的快速演進(jìn)，車載計(jì)算平臺對SoC（系統(tǒng)級芯片）的性能、可靠性與實(shí)時(shí)性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復(fù)雜任務(wù)。然而，如此復(fù)雜的芯片架構(gòu)對測試環(huán)節(jié)構(gòu)成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借高達(dá)400 MHz的測試速率、512至2048個(gè)數(shù)字通道以及每通道高達(dá)128M的向量存儲深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗(yàn)證階段所需的高并發(fā)、高精度測試場景，為芯片從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)提供堅(jiān)實(shí)保障。國磊GT600SoC測試機(jī)可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時(shí)間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時(shí)序?qū)R測試。國磊GEN測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

國磊GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量SoC在睡眠、深度睡眠（或關(guān)斷模式下靜態(tài)漏電流。常州導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)

    高通道密度（512~2048數(shù)字通道）——適配復(fù)雜AISoC引腳規(guī)模，現(xiàn)代AI芯片引腳數(shù)常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統(tǒng)測試設(shè)備通道不足。支持**多2048個(gè)數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時(shí)復(fù)用導(dǎo)致的測試盲區(qū)。滿足寒武紀(jì)、壁仞、華為昇騰等國產(chǎn)AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進(jìn)入數(shù)據(jù)中心與邊緣計(jì)算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實(shí)現(xiàn)真實(shí)AI負(fù)載場景回放，AI推理/訓(xùn)練涉及復(fù)雜算法流（如Transformer、CNN），需長時(shí)間、高覆蓋率的功能驗(yàn)證。128M向量存儲深度支持完整運(yùn)行真實(shí)AI工作負(fù)載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異?；蚬姆逯怠２粌H驗(yàn)證邏輯功能，更能模擬實(shí)際應(yīng)用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產(chǎn)品上市周期。 常州導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)