支持復雜測試向量導入，加速算法驗證閉環 智能駕駛芯片的**價值在于其內置的AI推理引擎能否準確執行感知與決策算法。杭州國磊GT600支持從其他測試平臺導入測試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數據格式，便于將仿真環境中的算法測試用例直接轉化為ATE（自動測試設備）可執行的測試向量。例如，可在GT600上加載真實道路場景下的圖像識別或目標檢測激勵序列，驗證NPU在極限負載下的響應正確性與時延表現，從而構建“算法—芯片—測試”一體化驗證閉環。國磊GT600SoC測試機通過輸入/輸出電平測試（VIH/VIL,VOH/VOL）驗證數字接口的高低電平閾值與驅動能力。國磊CAF測試系統研發公司

    車規級MEMS傳感器包括用于ESP車身穩定系統的高g加速度計、發動機歧管壓力傳感器等，需滿足AEC-Q100認證。杭州國磊（Guolei）支持點：支持-40℃~125℃環境應力測試（通過GPIB/TTL對接溫箱）；高可靠性測試流程（如HAST、HTOL前后的參數對比）；數據自動記錄為STDF格式，便于車廠追溯與良率分析；每引腳PPMU檢測早期失效（如漏電流異常）。生物醫療MEMS如植入式壓力傳感器、微流控芯片控制器，對低功耗與長期穩定性要求極高。杭州國磊（Guolei）支持點：nA級靜態電流測量（PPMU）；**噪聲激勵與采集，避免干擾生物信號；支持長期老化測試中的周期性參數回讀。杭州國磊（Guolei）SoC測試系統不直接測試MEMS的機械或物理特性（如諧振頻率、Q值、位移等），但***覆蓋MEMS產品中不可或缺的電子控制與信號處理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能與可靠性驗證。在消費電子、汽車電子、工業物聯網和新興智能硬件領域，杭州國磊（Guolei）GT600已成為國產MEMS廠商實現高精度、高效率、低成本、自主可控測試的重要平臺，有力支撐中國MEMS產業鏈從“制造”向“智造”升級。 絕緣電阻測試系統研發若測得電流明顯高于設計規格，即判定為漏電異常。結合高溫測試，國磊GT600可放大漏電效應提升缺陷檢出率。

手機SoC的“全能考官” 現代手機SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級計算機”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數十個模塊。杭州國磊GT600憑借512通道與16個通用插槽，可靈活配置數字、模擬、混合信號測試資源，實現“一機通測”。其高速數字通道驗證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號，測試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測量基帶信號時序，保障5G通信穩定。PPMU則檢測NPU待機功耗，確保AI功能“強勁且省電”。128M向量深度支持長周期AI算法驗證，避免測試中斷。杭州國磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測試能力，為國產手機SoC從研發到量產保駕護航，讓中國芯在**手機市場更具競爭力。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，國磊SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。 國磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG與Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等參數測試。

傳統測試設備面向通用CPU/GPU設計，難以應對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯等新架構。GT600針對此類需求優化了測試向量調度機制與并行激勵生成能力，支持對非規則數據流、動態稀疏***、混合精度運算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構系統的工作狀態。這種“為AI而生”的設計理念，使GT600不僅兼容現有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創新。在杭州打造“中國算力之城”的進程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進，**國產測試技術范式升級。GT600可通過數字通道監測電源門控使能信號（PG_EN），驗證其是否按測試程序正確拉高/拉低。杭州國磊絕緣電阻測試系統批發

國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺，其測試能力由板卡配置與軟件程序決定，而非綁定特定工藝。國磊CAF測試系統研發公司

杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度，相當于可存儲1.28億個測試步驟，這是保障復雜芯片測試完整性的關鍵。現代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執行多任務調度、通信芯片處理完整5G協議棧，這些測試序列動輒數百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機需頻繁從硬盤加載數據，導致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內存，實現“全速連續運行”，避免性能瓶頸。在工程調試階段，長向量也便于復現偶發性失效。對于需要長時間穩定性測試的車規芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環序列。這一參數確保杭州國磊GT600能應對未來更復雜的芯片驗證需求。國磊CAF測試系統研發公司