對于時間測量要求極高的場景(如ADAS傳感器信號),杭州國磊GT600可選配高精度TMU(時間測量單元,分辨率10ps),精確捕捉信號延遲與抖動,確保通信實時性。 再次,GT600支持混合信號測試。 現代車規芯片(如智能座艙、域控制器SoC)集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號,測試攝像頭ISP的圖像處理能力;通過高速數字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***,國磊GT600的512站點并行測試能力,大幅提升了車規芯片的量產效率,降低了單顆測試成本,助力國產車規芯片快速上車。當電源門控開關未完全關斷時被關閉模塊仍會產生異常漏電。國磊GT600通過PPMU測量被門控電源域的靜態電流。杭州PCB測試系統批發

可選AWG/TMU/Digitizer:混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG(任意波形發生器)、TMU(時間測量單元)和Digitizer(數字化儀),使其從“數字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形,用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能,THD低至-122dB,信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率,可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲,保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號,用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時,杭州國磊GT600可同時激勵數字邏輯、注入模擬信號、采集響應波形,實現全功能閉環驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應對日益復雜的混合信號SoC,無需外接多臺設備,節省空間與成本。高性能CAF測試系統按需定制國磊GT600測試機可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工藝節點的電源門控測試。

車規級MEMS傳感器包括用于ESP車身穩定系統的高g加速度計、發動機歧管壓力傳感器等,需滿足AEC-Q100認證。杭州國磊(Guolei)支持點:支持-40℃~125℃環境應力測試(通過GPIB/TTL對接溫箱);高可靠性測試流程(如HAST、HTOL前后的參數對比);數據自動記錄為STDF格式,便于車廠追溯與良率分析;每引腳PPMU檢測早期失效(如漏電流異常)。生物醫療MEMS如植入式壓力傳感器、微流控芯片控制器,對低功耗與長期穩定性要求極高。杭州國磊(Guolei)支持點:nA級靜態電流測量(PPMU);**噪聲激勵與采集,避免干擾生物信號;支持長期老化測試中的周期性參數回讀。杭州國磊(Guolei)SoC測試系統不直接測試MEMS的機械或物理特性(如諧振頻率、Q值、位移等),但***覆蓋MEMS產品中不可或缺的電子控制與信號處理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能與可靠性驗證。在消費電子、汽車電子、工業物聯網和新興智能硬件領域,杭州國磊(Guolei)GT600已成為國產MEMS廠商實現高精度、高效率、低成本、自主可控測試的重要平臺,有力支撐中國MEMS產業鏈從“制造”向“智造”升級。
智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動駕駛技術的快速演進,車載計算平臺對SoC(系統級芯片)的性能、可靠性與實時性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元,用于處理多傳感器融合、路徑規劃與決策控制等復雜任務。然而,如此復雜的芯片架構對測試環節構成了巨大挑戰。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借高達400 MHz的測試速率、512至2048個數字通道以及每通道高達128M的向量存儲深度,能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗證階段所需的高并發、高精度測試場景,為芯片從設計到量產提供堅實保障。國磊GT600測試機模塊化16插槽架構可同時集成數字、AWG、TMU、Digitizer板卡,實現HBM系統級混合信號測試。

高通道密度(512~2048數字通道)——適配復雜AISoC引腳規模,現代AI芯片引腳數常超2000(如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域),傳統測試設備通道不足。支持**多2048個數字通道,可一次性完成全引腳并行測試,避免分時復用導致的測試盲區。滿足寒武紀、壁仞、華為昇騰等國產AI芯片的高集成度測試需求,助力其快速進入數據中心與邊緣計算市場。超大向量深度(**高128M/通道)——實現真實AI負載場景回放,AI推理/訓練涉及復雜算法流(如Transformer、CNN),需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負載測試向量,捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能,更能模擬實際應用場景,提升芯片可靠性,加速客戶產品上市周期。 國磊GT600SoC測試機尤其適用于高引腳數、高集成度、混合信號特征明顯的先進芯片。高性能CAF測試系統按需定制
國磊GT600SoC測試機通過地址/數據生成器驗證片上存儲器(RAM/ROM)或寄存器配置接口完成ALPG測試。杭州PCB測試系統批發
高精度模擬測試能力匹配MEMS信號鏈要求,MEMS傳感器輸出信號微弱(如微伏級電容變化或納安級電流),對測試系統的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊(Guolei)GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**(總諧波失真)和110dB SNR(信噪比),能生成超純凈激勵信號;同時其Digitizer支持20~24位采樣,可精確捕獲微弱響應。這種能力對于測試MEMS麥克風的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計的偏置穩定性至關重要。支持低功耗與寬電壓范圍測試 許多MEMS器件用于可穿戴設備、物聯網節點等電池供電場景,對功耗極為敏感。國磊(Guolei)GT600的GT-DPSMV08電源板卡支持**-2.5V ~ +7V、1A**輸出,并具備每引腳**電源控制(PPMU),可精確測量待機/工作/休眠各模式下的電流(nA~mA級),驗證MEMS-SoC是否滿足ULP(**功耗)設計目標,這對通過終端產品能效認證(如Energy Star)具有直接價值。杭州PCB測試系統批發