測試數據閉環助力量子芯片協同優化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優化”閉環。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然杭州國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。 工藝微縮致亞閾值漏電柵極漏電增加，微小漏電異常縮短電池壽命，GT600快速篩選出“壞芯”，確保量產良率。金門PCB測試系統研發

面對AI架構日新月異（如存算一體、稀疏計算、類腦芯片），測試平臺必須具備高度靈活性。GT600采用開放軟件架構，支持C++、Python及Visual Studio開發環境，允許用戶自定義測試邏輯、數據分析模塊與自動化腳本。高校、初創企業甚至“六小龍”中的技術團隊均可基于GT600快速搭建專屬驗證方案，無需依賴封閉廠商的黑盒工具鏈。這種開放性極大縮短了從算法原型到芯片驗證的周期，使杭州成為AI芯片創新的“快速試驗田”。GT600不僅是量產設備，更是推動中國AI底層硬件從“跟隨”走向“原創”的創新引擎。贛州CAF測試系統定制國磊GT600雖不是專為Chiplet設計，但其“模塊化、高性能多物理場集成”的架構具備服務Chiplet測試的能力。

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），相當于檢測每秒流過數億個電子的微小電流。在手機芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導致的“待機耗電”問題，確保續航達標。在FIMV（強制電流測電壓）模式下，可驗證電源調整率，防止芯片在高負載下電壓跌落導致死機。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。

國產替代的“自主基石” 在美國對華**半導體設備禁運的背景下，國產測試機成為“卡脖子”環節的突圍重點。杭州國磊GT600作為國產**SoC測試平臺，支持C++編程、Visual Studio開發環境，軟件系統開放可控，避免依賴國外“黑盒子”軟件。其硬件架構靈活，16個通用插槽可適配國產探針臺、分選機，實現全鏈路本土化集成。交期短、響應快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業對供應鏈安全與數據保密的嚴苛要求。杭州國磊GT600的出現，標志著中國在**測試設備領域從“跟跑”向“并跑”邁進。它不僅是工具，更是中國半導體產業鏈自主可控戰略的“隱形支柱”，為國產芯片的持續創新提供堅實底座。國磊GT600SoC測試機可以進行電源門控測試即驗證PowerGating開關的漏電控制效果。

AI大模型芯片的“算力守門人” 在AI大模型驅動算力**的***，國產AI芯片（如寒武紀、壁仞）正加速替代英偉達GPU。然而，這些芯片內部集成了數千個AI**與高速互聯總線，其功能復雜度與功耗控制要求極高。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借400MHz測試速率與128M向量深度，可完整運行復雜的AI推理算法測試向量，驗證NPU在真實負載下的計算精度與吞吐能力。其高精度PPMU能精確測量芯片在待機、輕載、滿載等多場景下的動態電流，確保“每瓦特算力”達標。同時，杭州國磊GT600支持512站點并行測試，大幅提升量產效率，降低單顆芯片測試成本，為AI芯片大規模部署數據中心提供堅實支撐。可以說，杭州國磊GT600不僅是AI芯片的“質檢員”，更是其從實驗室走向萬卡集群的“量產加速器”。國磊GT600SoC測試機ALPG功能可生成地址/數據模式，用于HBM存儲控制器的功能驗證。國產CAF測試系統

國磊GT600SoC測試機高精度浮動SMU板卡可實現HBM接口電源域的電壓裕量（VoltageMargining）與功耗測試。金門PCB測試系統研發

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執行4億次信號激勵與采樣，這是驗證現代高速SoC的基石。在智能手機場景中，麒麟芯片的LPDDR5內存接口、PCIe 4.0存儲總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運行在接口全速，但足以覆蓋其協議層的功能測試與時序驗證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號邊沿、驗證數據完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅動NPU**進行高吞吐矩陣運算測試，確保算力達標。400MHz還支持復雜狀態機跳轉、多模塊協同仿真，避免因測試速率不足導致功能覆蓋缺失。這一參數使GT600能勝任從5G通信到邊緣計算的各類高速芯片驗證，成為國產**SoC量產的“***道高速關卡”。金門PCB測試系統研發