在地緣***風險加劇的當下，芯片測試環節的自主可控關乎**。過去，**SoC測試嚴重依賴泰瑞達、愛德萬等國外設備，存在數據泄露、斷供禁運等隱患。GT600作為純國產**測試機，從FPGA控制邏輯到測試向量編譯器均實現自主開發，確保測試數據不出境、設備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領域部署的AI芯片，必須通過可信平臺驗證。GT600的出現，填補了國產測試設備在400MHz以上高頻段的空白，為國家關鍵信息基礎設施提供“***一道防線”，是構建安全、普惠、可信AI生態的基石。國磊GT600SoC測試機可以通過GPIB/TTL接口聯動探針臺與分選機，實現全自動測試。浙江CAF測試系統參考價

推動測試設備產業鏈協同發展，國磊（Guolei）GT600的研發帶動了國內精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數字轉換器（TDC），這類**部件的國產化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產”的良性循環，有助于構建完整的國產半導體測試裝備產業鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續性。國磊（Guolei）SoC測試系統不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現**測試設備的國產替代、支撐國產芯片自主創新、保障敏感數據安全、促進上下游協同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產業鏈不可或缺的戰略支點。PCB測試系統行價國磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多種模式，滿足運放、比較器等模擬器件特性測試需求。

在全球半導體測試設備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機標志著中國在**數字測試領域實現關鍵突破。該設備支持高達400 MHz的測試速率和**多2048個數字通道，足以覆蓋當前主流AI芯片、高性能計算SoC及車規級芯片的驗證需求。其模塊化架構不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實現了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規避了“卡脖子”風險。在中美科技競爭加劇、國產芯片加速落地的大環境下，GT600不僅是一臺測試設備，更是保障中國半導體產業鏈安全的戰略支點，為國內設計公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗證平臺。

高精度模擬測試能力匹配MEMS信號鏈要求，MEMS傳感器輸出信號微弱（如微伏級電容變化或納安級電流），對測試系統的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊（Guolei）GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**（總諧波失真）和110dB SNR（信噪比），能生成超純凈激勵信號；同時其Digitizer支持20~24位采樣，可精確捕獲微弱響應。這種能力對于測試MEMS麥克風的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計的偏置穩定性至關重要。支持低功耗與寬電壓范圍測試 許多MEMS器件用于可穿戴設備、物聯網節點等電池供電場景，對功耗極為敏感。國磊（Guolei）GT600的GT-DPSMV08電源板卡支持**-2.5V ~ +7V、1A**輸出，并具備每引腳**電源控制（PPMU），可精確測量待機/工作/休眠各模式下的電流（nA~mA級），驗證MEMS-SoC是否滿足ULP（**功耗）設計目標，這對通過終端產品能效認證（如Energy Star）具有直接價值。國磊GT600SoC測試機可用于執行電壓裕量測試（VoltageMargining），評估芯片在電壓波動下的穩定性。

高速數字接口驗證保障系統集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自動駕駛）常集成SPI/QSPI接口，速率可達50MHz以上。國磊（Guolei）GT600支持400MHz測試速率和100ps邊沿精度，不僅能驗證數字協議合規性，還可進行眼圖分析、抖動測試和建立/保持時間檢查，確保MEMS模塊在高速數據交互中不失效，避免因接口時序問題導致系統崩潰。并行測試提升MEMS量產效率 消費級MEMS芯片（如手機中的六軸傳感器）年出貨量達數億顆，對測試成本極其敏感。國磊（Guolei）GT600支持比較高512 Sites并行測試，可在單次測試中同時驗證數百顆MEMS-ASIC芯片，大幅降低單顆測試時間與成本。結合其向量存儲深度（比較高128M）和ALPG（自動邏輯圖形生成）功能，可高效覆蓋復雜校準算法（如六點溫度補償）的測試流程。國磊GT600高達512個數字通道，可同時測試集成模擬模塊的SoC，如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能驗證。珠海導電陽極絲測試系統研發

GT600可通過數字通道監測電源門控使能信號（PG_EN），驗證其是否按測試程序正確拉高/拉低。浙江CAF測試系統參考價

集成PPMU與動態電流監測——賦能“每瓦特算力”優化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數據中心“雙碳”目標下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態電流與A級動態電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設計團隊優化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產AI芯片。512 Sites并行測試架構——降低量產成本，搶占市場先機。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數級提升。為國產AI芯片大規模量產提供“超級測試流水線”，實現“測得快、賣得起、用得穩”。開放軟件生態（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創新迭代 背景：AI架構快速演進（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環境支持自定義測試邏輯，高校與企業可快速開發新型測試方案。不僅是量產工具，更是科研創新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。浙江CAF測試系統參考價