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LPCVD設(shè)備中除了工藝參數(shù)外，還有一些其他因素會影響薄膜材料的質(zhì)量和性能。例如：（1）設(shè)備本身的結(jié)構(gòu)、材料、清潔、校準(zhǔn)等因素，會影響設(shè)備的穩(wěn)定性、精確性、可靠性等指標(biāo)；（2）環(huán)境條件如溫度、濕度、氣壓、灰塵等因素，會影響設(shè)備的工作狀態(tài)、氣體的性質(zhì)、反應(yīng)的平衡...

對于PECVD如果成膜質(zhì)量差，則主要由一下幾項因素造成：1.樣片表面清潔度差，檢查樣品表面是否清潔。2.工藝腔體清潔度差，清洗工藝腔體。3.樣品溫度異常，檢查溫控系統(tǒng)是否正常，校準(zhǔn)測溫?zé)犭娕肌?.膜淀積過程中壓力異常，檢查腔體真空系統(tǒng)漏率。5.射頻功率設(shè)置不合...

LPCVD設(shè)備的設(shè)備構(gòu)造主要包括以下幾個部分：真空系統(tǒng)、氣體輸送系統(tǒng)、反應(yīng)室、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、壓力控制系統(tǒng)、流量控制系統(tǒng)等。LPCVD設(shè)備的發(fā)展趨勢主要有以下幾點：（1）為了降低襯底材料的熱損傷和熱預(yù)算，提高沉積速率和產(chǎn)能，開發(fā)新型的低溫LPCVD方法...

研究所利用多平臺協(xié)同優(yōu)勢，研究電子束曝光圖形在后續(xù)工藝中的轉(zhuǎn)移完整性。電子束曝光形成的抗蝕劑圖形需要通過刻蝕工藝轉(zhuǎn)移到半導(dǎo)體材料中，團(tuán)隊將曝光系統(tǒng)與電感耦合等離子體刻蝕設(shè)備結(jié)合，研究不同刻蝕氣體比例對圖形轉(zhuǎn)移精度的影響。通過材料分析平臺的掃描電鏡觀察，發(fā)現(xiàn)曝光...

現(xiàn)代科研平臺將電子束曝光模塊集成于掃描電子顯微鏡（SEM），實現(xiàn)原位加工與表征。典型應(yīng)用包括在TEM銅網(wǎng)制作10μm支撐膜窗口或在AFM探針沉積300納米鉑層。利用二次電子成像和能譜（EDS）聯(lián)用，電子束曝光支持實時閉環(huán)操作（如加工后成分分析），提升跨尺度研究...

研究所利用電子束曝光技術(shù)制備微納尺度的熱管理結(jié)構(gòu)，探索其在功率半導(dǎo)體器件中的應(yīng)用。功率器件工作時產(chǎn)生的熱量需快速散出，團(tuán)隊通過電子束曝光在器件襯底背面制備周期性微通道結(jié)構(gòu)，增強(qiáng)散熱面積。結(jié)合熱仿真與實驗測試，分析微通道尺寸與排布方式對散熱性能的影響，發(fā)現(xiàn)特定結(jié)...

針對柔性襯底上的電子束曝光技術(shù)，研究所開展了適應(yīng)性研究。柔性半導(dǎo)體器件的襯底通常具有一定的柔韌性，可能影響曝光過程中的晶圓平整度，科研團(tuán)隊通過改進(jìn)晶圓夾持裝置，減少柔性襯底在曝光時的變形。同時，調(diào)整電子束的掃描速度與聚焦方式，適應(yīng)柔性襯底表面可能存在的微小起伏...

研究所利用電子束曝光技術(shù)制備微納尺度的熱管理結(jié)構(gòu)，探索其在功率半導(dǎo)體器件中的應(yīng)用。功率器件工作時產(chǎn)生的熱量需快速散出，團(tuán)隊通過電子束曝光在器件襯底背面制備周期性微通道結(jié)構(gòu)，增強(qiáng)散熱面積。結(jié)合熱仿真與實驗測試，分析微通道尺寸與排布方式對散熱性能的影響，發(fā)現(xiàn)特定結(jié)...

針對電子束曝光在異質(zhì)結(jié)器件制備中的應(yīng)用，科研團(tuán)隊研究了不同材料界面處的圖形轉(zhuǎn)移規(guī)律。異質(zhì)結(jié)器件的多層材料可能具有不同的刻蝕選擇性，團(tuán)隊通過電子束曝光在頂層材料上制備圖形，再通過分步刻蝕工藝將圖形轉(zhuǎn)移到下層不同材料中，研究刻蝕時間與氣體比例對跨材料圖形一致性的影...

電子束蒸發(fā)蒸鍍?nèi)珂u(W）、鉬（Mo）等高熔點材料，需要在坩堝的結(jié)構(gòu)上做一定的改進(jìn)。高熔點的材料采用錠或者顆粒狀放在坩堝當(dāng)中，因為水冷坩堝導(dǎo)熱過快，材料難以達(dá)到其蒸發(fā)的溫度。經(jīng)過實驗的驗證，蒸發(fā)高熔點的材料可以用薄片來蒸鍍，將1mm材料薄片架空于碳坩堝上沿，薄片...

UV-LED光源作為一種新興光源，近幾年技術(shù)獲得了極大的進(jìn)步，在光刻機(jī)上同樣作為光源使用。與傳統(tǒng)汞燈相比，具有光強(qiáng)更高、穩(wěn)定性更好的特點，可節(jié)省電能約50%，壽命延長5倍～10倍。一支汞燈的使用壽命通常在800～1000h，在進(jìn)行工業(yè)生產(chǎn)中，通常24h保持工作...

泛曝光是在不使用掩膜的曝光過程，會對未暴露的光刻膠區(qū)域進(jìn)行曝光，從而可以在后續(xù)的顯影過程被溶解顯影。為了使光刻膠輪廓延伸到襯底，(襯底附近)光刻膠區(qū)域也應(yīng)獲得足夠的曝光劑量。泛曝光的劑量過大并不會影響后續(xù)的工藝過程，因為曝光區(qū)域的光刻膠在反轉(zhuǎn)烘烤過程中已經(jīng)不再...

雙面對準(zhǔn)光刻機(jī)采用底部對準(zhǔn)（BSA）技術(shù)，能實現(xiàn)“雙面對準(zhǔn)，單面曝光”。該設(shè)備對準(zhǔn)精度高，適用于大直徑基片。在對準(zhǔn)過程中，圖形處理技術(shù)起到了至關(guān)重要的作用。其基本工作原理是將CCD攝像頭采集得到的連續(xù)模擬圖像信號經(jīng)圖像采集卡模塊的D/A轉(zhuǎn)換，變?yōu)閿?shù)字圖像信號，...

光源的選擇不但影響光刻膠的曝光效果和穩(wěn)定性，還直接決定了光刻圖形的精度和生產(chǎn)效率。選擇合適的光源可以提高光刻圖形的分辨率和清晰度，使得在更小的芯片上集成更多的電路成為可能。同時，優(yōu)化光源的功率和曝光時間可以縮短光刻周期，提高生產(chǎn)效率。然而，光源的選擇也需要考慮...

針對電子束曝光在教學(xué)與人才培養(yǎng)中的作用，研究所利用該技術(shù)平臺開展實踐培訓(xùn)。作為擁有人才團(tuán)隊的研究機(jī)構(gòu)，團(tuán)隊通過電子束曝光實驗課程，培養(yǎng)研究生與青年科研人員的微納加工技能，讓學(xué)員參與從圖形設(shè)計到曝光制備的全流程操作。結(jié)合第三代半導(dǎo)體器件的研發(fā)項目，使學(xué)員在實踐中...

光刻機(jī)被稱作“現(xiàn)代光學(xué)工業(yè)之花”，生產(chǎn)制造全過程極為繁雜，一臺光刻機(jī)的零配件就達(dá)到10萬個。ASML光刻機(jī)也不是荷蘭以一國之力造出的，ASML公司的光刻機(jī)采用了美國光源設(shè)備及技術(shù)工藝，也選用了德國卡爾蔡司的光學(xué)鏡頭先進(jìn)設(shè)備，絕大多數(shù)零部件都需用從海外進(jìn)口，匯聚...

在光刻膠技術(shù)數(shù)據(jù)表中，會給出一些參考的曝光劑量值，通常，這里所寫的值是用單色i-線或者BB-UV曝光。正膠和負(fù)膠的光反應(yīng)通常是一個單光子過程與時間沒太大關(guān)系。因此，在原則上需要多長時間(從脈沖激光的飛秒到接觸光刻的秒到激光干涉光刻的小時)并不重要，作為強(qiáng)度和時...

刻膠顯影完成后，圖形就基本確定，不過還需要使光刻膠的性質(zhì)更為穩(wěn)定。硬烘干可以達(dá)到這個目的，這一步驟也被稱為堅膜。在這過程中，利用高溫處理，可以除去光刻膠中剩余的溶劑、增強(qiáng)光刻膠對硅片表面的附著力，同時提高光刻膠在隨后刻蝕和離子注入過程中的抗蝕性能力。另外，高溫...

光刻工藝就是將光學(xué)掩膜版的圖形轉(zhuǎn)移至光刻膠中。掩膜版按基板材料分為樹脂和玻璃基板，其中玻璃基板又包含石英玻璃，硅硼玻璃，蘇打玻璃等，石英玻璃硬度高，熱膨脹系數(shù)低但價格較高等主要用于高精度領(lǐng)域；按光學(xué)掩膜版的遮光材料可分為乳膠遮光模和硬質(zhì)遮光膜，硬質(zhì)遮光膜又細(xì)分...

等離子體表面處理技術(shù)是一種利用高能等離子體對物體表面進(jìn)行改性的技術(shù)，它可以實現(xiàn)以下幾個目的：清洗：通過使用氧氣、氮氣、氬氣等工作氣體，將物體表面的有機(jī)物、氧化物、粉塵等污染物去除，提高表面的潔凈度和活性；刻蝕：通過使用氟化氫、氯化氫、硫化氫等刻蝕氣體，將物體表...

TSV制程是目前半導(dǎo)體制造業(yè)中為先進(jìn)的技術(shù)之一，已經(jīng)應(yīng)用于很多產(chǎn)品生產(chǎn)。例如：CMOS圖像傳感器（CIS）：通過使用TSV作為互連方式，可以實現(xiàn)背照式圖像傳感器（BSI）的設(shè)計，提高圖像質(zhì)量和感光效率；三維封裝（3Dpackage）：通過使用TSV作為垂直互連...

TSV制程的主要工藝流程包括以下幾個步驟：?深反應(yīng)離子刻蝕（DRIE）法形成通孔，通孔的直徑、深度、形狀和位置都需要精確控制；?化學(xué)氣相沉積（CVD）法沉積絕緣層，絕緣層的厚度、均勻性和質(zhì)量都需要滿足要求；?物理的氣相沉積（PVD）法沉積阻擋層和種子層，阻擋層...

各向異性：各向異性是指硅片上被刻蝕的結(jié)構(gòu)在垂直方向和水平方向上的刻蝕速率比，它反映了深硅刻蝕設(shè)備的刻蝕剖面和形狀。各向異性受到反應(yīng)室內(nèi)的偏置電壓、保護(hù)膜沉積等參數(shù)的影響，一般在10-100之間。各向異性越高，表示深硅刻蝕設(shè)備對硅片上結(jié)構(gòu)的垂直方向上的刻蝕能力越...

涂膠工序是圖形轉(zhuǎn)換工藝中重要的步驟。涂膠的質(zhì)量直接影響到所加工器件的缺陷密度。為了保證線寬的重復(fù)性和接下去的顯影時間，同一個樣品的膠厚均勻性和不同樣品間的膠厚一致性不應(yīng)超過±5nm(對于1.5um膠厚±0.3%)。光刻膠的目標(biāo)厚度的確定主要考慮膠自身的化學(xué)特性...

深硅刻蝕設(shè)備的主要性能指標(biāo)有以下幾個：刻蝕速率：刻蝕速率是指單位時間內(nèi)硅片上被刻蝕掉的厚度，它反映了深硅刻蝕設(shè)備的生產(chǎn)效率和成本。刻蝕速率受到反應(yīng)室內(nèi)的壓力、溫度、氣體流量、電壓、電流等參數(shù)的影響，一般在0.5-10微米/分鐘之間。刻蝕速率越高，表示深硅刻蝕設(shè)...

泛曝光是在不使用掩膜的曝光過程，會對未暴露的光刻膠區(qū)域進(jìn)行曝光，從而可以在后續(xù)的顯影過程被溶解顯影。為了使光刻膠輪廓延伸到襯底，(襯底附近)光刻膠區(qū)域也應(yīng)獲得足夠的曝光劑量。泛曝光的劑量過大并不會影響后續(xù)的工藝過程，因為曝光區(qū)域的光刻膠在反轉(zhuǎn)烘烤過程中已經(jīng)不再...

三五族材料的干法刻蝕工藝需要根據(jù)不同的材料類型、結(jié)構(gòu)形式、器件要求等因素進(jìn)行優(yōu)化和調(diào)節(jié)。一般來說，需要考慮以下幾個方面：刻蝕氣體：刻蝕氣體的選擇主要取決于三五族材料的化學(xué)性質(zhì)和刻蝕產(chǎn)物的揮發(fā)性。一般來說，對于含有砷、磷、銻等元素的三五族材料，可以選擇氯氣、溴氣...

深硅刻蝕設(shè)備的主要性能指標(biāo)有以下幾個：刻蝕速率：刻蝕速率是指單位時間內(nèi)硅片上被刻蝕掉的厚度，它反映了深硅刻蝕設(shè)備的生產(chǎn)效率和成本。刻蝕速率受到反應(yīng)室內(nèi)的壓力、溫度、氣體流量、電壓、電流等參數(shù)的影響，一般在0.5-10微米/分鐘之間。刻蝕速率越高，表示深硅刻蝕設(shè)...

深硅刻蝕設(shè)備的技術(shù)發(fā)展之一是氣體分布系統(tǒng)的改進(jìn)，該系統(tǒng)可以實現(xiàn)氣體在反應(yīng)室內(nèi)的均勻分布和動態(tài)調(diào)節(jié)，從而提高刻蝕速率和均勻性，降低荷載效應(yīng)和扇形效應(yīng)。例如，LamResearch公司推出了一種新型的氣體分布系統(tǒng)，可以根據(jù)不同的工藝需求，自動調(diào)整氣體流量、壓力和方...

先進(jìn)封裝是指一種用于提高集成電路（IC）的性能、功能和可靠性的技術(shù)，它通過將不同的IC或器件以物理或電氣的方式連接起來，形成一個更小、更快、更強(qiáng)的系統(tǒng)。深硅刻蝕設(shè)備是一種用于制造高縱橫比硅結(jié)構(gòu)的先進(jìn)工藝設(shè)備，它在先進(jìn)封裝中主要用于實現(xiàn)通過硅通孔（TSV）或硅中...